CN / EN
NEWS CENTER
新闻中心
PVT法与液相法,谁将突破SiC单晶生长的技术瓶颈?
发布时间:2025.02.21 浏览次数:237

PVT法:成熟工艺背后的“高温困局”

  1. 工艺原理与核心流程

PVT法是目前商用碳化硅单晶的主流技术,其原理是通过高温(>2000℃)将碳化硅粉料升华成气相,再在籽晶表面冷凝结晶。关键步骤包括:
  • 原料合成:高纯硅粉与碳粉在2000℃以上反应生成多晶碳化硅颗粒;
  • 晶体生长:在密闭石墨炉内,通过精确控制温度梯度(轴向温差约50℃/cm)和压力(0.2-80kPa),实现气相传输和晶体扩径;
  • 冷却加工:生长完成后需以极缓慢速率降温(约1℃/分钟),避免因热应力导致晶体开裂。

2. 技术难点与产业瓶颈

尽管PVT法已发展40余年,但良率低(约30%-50%)和成本高仍是核心痛点:
  • “黑匣子”式生长环境:2000℃以上的高温使测温精度受限,工艺参数依赖经验积累,难以实时监控;
  • 晶型控制难题:碳化硅存在200多种晶型,而商用需求集中于4H-SiC。生长过程中微小的温度波动即可引发相变,导致多型夹杂缺陷;
  • 晶体缺陷密度高:微管、位错等缺陷密度达102-103/cm²,直接影响器件可靠性;
  • 扩径速度慢:生长速率仅0.3-0.5mm/h,6英寸晶锭需连续生长7-10天,能耗成本占总成本40%以上。

液相法:低成本破局者的崛起之路

  1. 工艺革新与突破性优势

液相法通过助溶剂(如硅基合金)降低碳化硅熔点(约1500℃),在近平衡态下实现晶体生长。其核心优势包括:
  • 温度大幅降低:生长温度较PVT法降低约500℃,设备损耗减少30%;
  • 晶体质量跃升:缺陷密度可降至PVT法的1/10,无巨台阶聚并现象,电阻率低至0.1Ω·cm;
  • P型晶体突破:可稳定制备4H-SiC P型晶体,为IGBT等高压器件提供材料基础;
  • 扩径效率高:中科院团队利用液相法生长了6英寸和8英寸的P-4H-SiC单晶。其中,8英寸P型4H-SiC单晶生长,厚度达8mm。

2. 产业化障碍与攻关方向

尽管前景广阔,液相法仍面临三大挑战:
  • 助溶剂杂质控制:残留金属杂质(如Fe、Al)需降至0.5ppm以下,否则影响电学性能;
  • 生长速率平衡:过快生长易引入缺陷,而速度过低(如常规LPE法仅0.01mm/h)难以满足量产需求;
  • 设备适配难题:需开发耐腐蚀反应腔体,日本某企业的MPZ技术虽将速率提升200倍,但设备成本仍高。

PVT vs 液相法:技术路线对决

对比维度PVT法液相法
成熟度
商用主流(全球90%产能)
实验室到小批量过渡阶段
生长温度
2000-2500℃
1500-1800℃
晶体质量
缺陷密度高(10²-10³/cm²)
缺陷密度低(<10²/cm²)
晶型控制
4H-SiC良率低(约50%)
可稳定制备P型4H及3C-SiC
成本结构
设备折旧+能耗占70%
助溶剂回收可降本30%
应用场景
MOSFET、SBD等成熟器件
高压IGBT、射频器件等新兴领域

未来趋势:技术融合与尺寸升级

1. 8英寸晶圆竞赛加速

  • PVT法:Wolfspeed已量产8英寸衬底,国内天岳先进、天科合达也在快马加鞭扩充产能
  • 液相法:中科院联合企业突破8英寸P型晶体,但良率仍需提升。

结语:碳化硅时代的“双轨并行”

PVT法凭借成熟工艺仍将主导未来5年市场,但液相法在成本与性能上的潜力不容小觑。随着新能源汽车对800V高压平台的需求爆发,以及光伏逆变器对耐高温器件的渴求,两种技术或将形成互补。这场技术博弈的终局,或将由谁能率先突破“缺陷控制”与“成本阈值”决定。